織物正向與側向動靜態懸垂測試
以及SMD軌跡特徵之研究
 


指導教授：王冰凝
姓名：高嘉松

摘要

        本研究自行設計織物動態懸垂量測儀，除了擷取織物正向懸垂之懸垂影像外，在機台側邊加裝攝影機以擷取側向懸垂之懸垂影像，以及 SMD 軌跡變化。 正向懸垂係數會隨著轉速增加而增加，在低轉速旋轉時織物面積變化不大，故正向懸垂係數變化小。

        側向懸垂係數會隨著轉速增加而增加，在低轉速旋轉時織物布邊不易有波折起伏，故側向懸垂係數變化小，反之，織物在較高轉速旋轉時織物會有較大的波折起伏，故側向懸垂係數變化大。
 
       當織物越硬挺時正向懸垂係數變化越大，SMD軌跡也不會有什麼波折的變化；反之，當織物越柔軟時側向懸垂係數變化越小，SMD軌跡變化的幅度會相當的大。

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